| 영상 | 제품번호 | 가격(USD) | 수량 | ECAD | 사용 수량 보유 | 무게(Kg) | 제조사 | 시리즈 | 세트 | 제품상태 | 용인 | 작동 온도 | 장착 | 세트/케이스 | 기본 제품 번호 | 기술 | 파워 - 최대 | 공급자 장치 | 데이터 시트 | RoHS 현황 | 민감도특급(MSL) | REACH 상태 | 다른 이름 | ECCN | HTSUS | 세트 세트 | 구성 | 속도 | 전압 - DC 역방향(Vr)(최대) | 전압 - 순방향(Vf)(최대) @ If | 역복구 시간(trr) | 현재 - 역방향 위치 @ Vr | 작동온도 - 그리고 | 현재 - 정류된 평균(Io) | 커패시턴스 @ Vr, F | 전압 - 제너(Nom)(Vz) | 최대(최대)(Zzt) |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
![]() | BZV85-C6V2,133 | 0.0400 | ![]() | 96 | 0.00000000 | NXP 반도체 | - | 대부분 | 활동적인 | ±5% | -65°C ~ 200°C | 스루홀 | DO-204AL, DO-41, 축방향 | 1W | DO-41 | 다운로드 | 1(무제한) | REACH 영향을 받지 않았습니다. | 2156-BZV85-C6V2,133-954 | 1 | 1V @ 50mA | 2μA @ 3V | 6.2V | 4옴 | |||||||||||||
![]() | BZX79-B2V7,143 | 0.0200 | ![]() | 80 | 0.00000000 | NXP 반도체 | - | 대부분 | 활동적인 | ±2% | -65°C ~ 200°C | 스루홀 | DO-204AH, DO-35, 축방향 | 400mW | ALF2 | 다운로드 | 1(무제한) | REACH 영향을 받지 않았습니다. | 2156-BZX79-B2V7,143-954 | 1 | 900mV @ 10mA | 20μA @ 1V | 2.7V | 100옴 | |||||||||||||
![]() | BZV85-C8V2,133 | 0.0300 | ![]() | 66 | 0.00000000 | NXP 반도체 | - | 대부분 | 활동적인 | ±5% | -65°C ~ 200°C | 스루홀 | DO-204AL, DO-41, 축방향 | 1.3W | DO-41 | 다운로드 | 1(무제한) | REACH 영향을 받지 않았습니다. | 2156-BZV85-C8V2,133-954 | 1 | 1V @ 50mA | 700nA @ 5V | 8.2V | 5옴 | |||||||||||||
![]() | BZB784-C2V7,115 | 0.0300 | ![]() | 75 | 0.00000000 | NXP 반도체 | - | 대부분 | 활동적인 | ±5% | - | 표면 실장 | SC-70, SOT-323 | 180mW | SOT-323 | 다운로드 | 1(무제한) | REACH 영향을 받지 않았습니다. | 2156-BZB784-C2V7,115-954 | EAR99 | 8541.10.0050 | 1 | 1쌍 구역 | 900mV @ 10mA | 20μA @ 1V | 2.7V | 100옴 | ||||||||||
![]() | BZV85-C43,133 | - | ![]() | 7382 | 0.00000000 | NXP 반도체 | - | 대부분 | 활동적인 | ±5% | -65°C ~ 200°C | 스루홀 | DO-204AL, DO-41, 축방향 | 1.3W | DO-41 | 다운로드 | 0000.00.0000 | 1 | 1V @ 50mA | 30V에서 50nA | 43V | 75옴 | |||||||||||||||
![]() | BZX79-C56,143 | 0.0200 | ![]() | 367 | 0.00000000 | NXP 반도체 | - | 대부분 | 활동적인 | ±5% | -65°C ~ 200°C | 스루홀 | DO-204AH, DO-35, 축방향 | 400mW | ALF2 | 다운로드 | 1(무제한) | REACH 영향을 받지 않았습니다. | 2156-BZX79-C56,143-954 | 1 | 900mV @ 10mA | 50nA @ 39.2V | 56V | 200옴 | |||||||||||||
![]() | BAS40-04,215 | 0.0200 | ![]() | 2929 | 0.00000000 | NXP 반도체 | * | 대부분 | 활동적인 | BAS40 | - | 1(무제한) | REACH 영향을 받지 않았습니다. | 2156-BAS40-04,215-954 | 13,000 | ||||||||||||||||||||||
![]() | NZH9V1B,115 | 0.0200 | ![]() | 198 | 0.00000000 | NXP 반도체 | - | 대부분 | 활동적인 | ±2% | -55°C ~ 150°C | 표면 실장 | SOD-123F | 500mW | SOD-123F | 다운로드 | 1(무제한) | REACH 영향을 받지 않았습니다. | 2156-NZH9V1B,115-954 | EAR99 | 8541.10.0070 | 1 | 900mV @ 10mA | 500nA @ 6V | 9.1V | 8옴 | |||||||||||
![]() | BZV55-C5V1,115 | 0.0200 | ![]() | 84 | 0.00000000 | NXP 반도체 | - | 대부분 | 활동적인 | ±5% | -65°C ~ 200°C | 표면 실장 | DO-213AC, 미니-MELF, SOD-80 | 500mW | LLDS; 미니멜프 | 다운로드 | 1(무제한) | REACH 영향을 받지 않았습니다. | 2156-BZV55-C5V1,115-954 | 1 | 900mV @ 10mA | 2V에서 2μA | 5.1V | 60옴 | |||||||||||||
![]() | BZX84-C30,215 | 0.0200 | ![]() | 50 | 0.00000000 | NXP 반도체 | 자동차, AEC-Q101 | 대부분 | 활동적인 | ±5% | -65°C ~ 150°C | 표면 실장 | TO-236-3, SC-59, SOT-23-3 | 250mW | TO-236AB | 다운로드 | 1(무제한) | REACH 영향을 받지 않았습니다. | 2156-BZX84-C30,215-954 | 1 | 900mV @ 10mA | 50nA @ 21V | 30V | 80옴 | |||||||||||||
![]() | PZU4.3B2,115 | - | ![]() | 2424 | 0.00000000 | NXP 반도체 | 자동차, AEC-Q101 | 대부분 | 활동적인 | ±2% | 150°C (TJ) | 표면 실장 | SC-90, SOD-323F | 310mW | SC-90 | - | RoHS 비준수 | 공급자가 규정하지 않는 경우 | 2156-PZU4.3B2,115-954 | 1 | 1.1V @ 100mA | 3μA @ 1V | 4.3V | 90옴 | |||||||||||||
![]() | PZU3.0B1,115 | 0.0300 | ![]() | 13 | 0.00000000 | NXP 반도체 | - | 대부분 | 더 이상 사용하지 않는 경우 | ±2% | 150°C (TJ) | 표면 실장 | SC-90, SOD-323F | 310mW | SOD-323F | - | RoHS 비준수 | 공급자가 규정하지 않는 경우 | 2156-PZU3.0B1,115-954 | EAR99 | 8541.10.0050 | 1 | 1.1V @ 100mA | 10μA @ 1V | 3V | 95옴 | |||||||||||
![]() | BZV55-C3V0,135 | 0.0200 | ![]() | 50 | 0.00000000 | NXP 반도체 | - | 대부분 | 활동적인 | ±5% | -65°C ~ 200°C | 표면 실장 | DO-213AC, 미니-MELF, SOD-80 | 500mW | LLDS; 미니멜프 | 다운로드 | REACH 영향을 받지 않았습니다. | 2156-BZV55-C3V0,135-954 | 1 | 900mV @ 10mA | 10μA @ 1V | 3V | 95옴 | ||||||||||||||
![]() | BZX84-A3V3,215 | 0.1100 | ![]() | 6 | 0.00000000 | NXP 반도체 | 자동차, AEC-Q101 | 대부분 | 활동적인 | ±1% | -65°C ~ 150°C | 표면 실장 | TO-236-3, SC-59, SOT-23-3 | 250mW | TO-236AB | 다운로드 | 1(무제한) | REACH 영향을 받지 않았습니다. | 2156-BZX84-A3V3,215-954 | 1 | 900mV @ 10mA | 1V에서 5μA | 3.3V | 95옴 | |||||||||||||
![]() | RB521S30,115 | - | ![]() | 6894 | 0.00000000 | NXP 반도체 | - | 대부분 | 활동적인 | 표면 실장 | SC-79, SOD-523 | 쇼트키 | SOD-523 | 다운로드 | 1(무제한) | REACH 영향을 받지 않았습니다. | 2156-RB521S30,115-954 | 1 | 작은 신호 =< 200mA(Io), 모든 속도 | 30V | 500mV @ 200mA | 10V에서 30μA | 150°C(최대) | 200mA | 25pF @ 1V, 1MHz | ||||||||||||
![]() | BZX79-B20133 | - | ![]() | 6562 | 0.00000000 | NXP 반도체 | BZX79 | 대부분 | 활동적인 | ±2% | -65°C ~ 200°C (TJ) | 스루홀 | DO-204AH, DO-35, 축방향 | 400mW | ALF2 | - | RoHS 비준수 | 공급자가 규정하지 않는 경우 | 2156-BZX79-B20133-954 | 1 | 900mV @ 10mA | 14V에서 50nA | 20V | 55옴 | |||||||||||||
![]() | BZV55-C75,115 | 0.0200 | ![]() | 55 | 0.00000000 | NXP 반도체 | - | 대부분 | 활동적인 | ±5% | -65°C ~ 200°C | 표면 실장 | DO-213AC, 미니-MELF, SOD-80 | 500mW | LLDS; 미니멜프 | 다운로드 | 1(무제한) | REACH 영향을 받지 않았습니다. | 2156-BZV55-C75,115-954 | 1 | 900mV @ 10mA | 50nA @ 52.5V | 75V | 255옴 | |||||||||||||
![]() | PMEG045T150EPDAZ | 0.3600 | ![]() | 92 | 0.00000000 | NXP 반도체 | 자동차, AEC-Q101 | 대부분 | 활동적인 | 표면 실장 | TO-277, 3-PowerDFN | 쇼트키 | CFP15 | 다운로드 | 1(무제한) | REACH 영향을 받지 않았습니다. | 2156-PMEG045T150EPDAZ-954 | EAR99 | 8541.10.0080 | 1 | 빠른 복구 =< 500ns, >200mA(이오) | 45V | 550mV @ 15A | 20ns | 45V에서 100μA | 175°C(최대) | 15A | 800pF @ 10V, 1MHz | |||||||||
![]() | BZV55-C2V4,115 | 0.0200 | ![]() | 5308 | 0.00000000 | NXP 반도체 | - | 대부분 | 활동적인 | ±5% | -65°C ~ 200°C | 표면 실장 | DO-213AC, 미니-MELF, SOD-80 | 500mW | LLDS; 미니멜프 | 다운로드 | REACH 영향을 받지 않았습니다. | 2156-BZV55-C2V4,115-954 | 10,000 | 900mV @ 10mA | 50μA @ 1V | 2.4V | 100옴 | ||||||||||||||
![]() | BZB84-B18,215 | - | ![]() | 4081 | 0.00000000 | NXP 반도체 | - | 대부분 | 활동적인 | ±2% | - | 표면 실장 | TO-236-3, SC-59, SOT-23-3 | BZB84-B18 | 300mW | TO-236AB | 다운로드 | 0000.00.0000 | 1 | 1쌍 구역 | 900mV @ 10mA | 12.6V에서 50nA | 18V | 45옴 | |||||||||||||
![]() | BZT52H-C62,115 | 0.0200 | ![]() | 165 | 0.00000000 | NXP 반도체 | 자동차, AEC-Q101 | 대부분 | 활동적인 | ±5% | -65°C ~ 150°C(타) | 표면 실장 | SOD-123F | BZT52 | 375mW | SOD-123F | 다운로드 | 1(무제한) | REACH 영향을 받지 않았습니다. | 2156-BZT52H-C62,115-954 | 1 | 900mV @ 10mA | 43.4V에서 50nA | 62V | 140옴 | ||||||||||||
![]() | BZX79-C11,143 | 0.0200 | ![]() | 295 | 0.00000000 | NXP 반도체 | - | 대부분 | 활동적인 | ±5% | -65°C ~ 200°C | 스루홀 | DO-204AH, DO-35, 축방향 | 400mW | ALF2 | 다운로드 | 1(무제한) | REACH 영향을 받지 않았습니다. | 2156-BZX79-C11,143-954 | 1 | 900mV @ 10mA | 100nA @ 8V | 11V | 20옴 | |||||||||||||
![]() | BAS101,215 | - | ![]() | 9960 | 0.00000000 | NXP 반도체 | - | 대부분 | 활동적인 | 표면 실장 | TO-236-3, SC-59, SOT-23-3 | 기준 | TO-236AB | 다운로드 | 1(무제한) | REACH 영향을 받지 않았습니다. | 2156-BAS101,215-954 | 1 | 작은 신호 =< 200mA(Io), 모든 속도 | 300V | 1.1V @ 100mA | 50ns | 250V에서 150nA | 150°C(최대) | 200mA | 2pF @ 0V, 1MHz | |||||||||||
![]() | BZT52H-C4V3,115 | 0.0200 | ![]() | 102 | 0.00000000 | NXP 반도체 | 자동차, AEC-Q101 | 대부분 | 활동적인 | ±5% | -65°C ~ 150°C(타) | 표면 실장 | SOD-123F | BZT52 | 375mW | SOD-123F | 다운로드 | 1(무제한) | REACH 영향을 받지 않았습니다. | 2156-BZT52H-C4V3,115-954 | 1 | 900mV @ 10mA | 3μA @ 1V | 4.3V | 95옴 | ||||||||||||
![]() | BZX84-B20,215 | - | ![]() | 1267 | 0.00000000 | NXP 반도체 | BZX84 | 대부분 | 활동적인 | ±2% | -65°C ~ 150°C (TJ) | 표면 실장 | TO-236-3, SC-59, SOT-23-3 | 250mW | TO-236AB | - | RoHS 비준수 | 공급자가 규정하지 않는 경우 | 2156-BZX84-B20,215-954 | 1 | 900mV @ 10mA | 14V에서 50nA | 20V | 55옴 | |||||||||||||
![]() | BZX79-C47,143 | 0.0200 | ![]() | 175 | 0.00000000 | NXP 반도체 | - | 대부분 | 활동적인 | ±5% | -65°C ~ 200°C | 스루홀 | DO-204AH, DO-35, 축방향 | 400mW | ALF2 | 다운로드 | 1(무제한) | REACH 영향을 받지 않았습니다. | 2156-BZX79-C47,143-954 | 1 | 900mV @ 10mA | 50nA @ 700mV | 47V | 170옴 | |||||||||||||
![]() | BZV55-C11,115 | 0.0200 | ![]() | 284 | 0.00000000 | NXP 반도체 | - | 대부분 | 활동적인 | ±5% | -65°C ~ 200°C | 표면 실장 | DO-213AC, 미니-MELF, SOD-80 | 500mW | LLDS; 미니멜프 | 다운로드 | 1(무제한) | REACH 영향을 받지 않았습니다. | 2156-BZV55-C11,115-954 | 1 | 900mV @ 10mA | 100nA @ 8V | 11V | 20옴 | |||||||||||||
![]() | BZV85-C6V8,133 | 0.0300 | ![]() | 5093 | 0.00000000 | NXP 반도체 | - | 대부분 | 활동적인 | ±5% | -65°C ~ 200°C | 스루홀 | DO-204AL, DO-41, 축방향 | 1.3W | DO-41 | 다운로드 | 1(무제한) | REACH 영향을 받지 않았습니다. | 2156-BZV85-C6V8,133-954 | 3,375 | 1V @ 50mA | 2μA @ 4V | 6.8V | 3.5옴 | |||||||||||||
![]() | BZT52-C33X | - | ![]() | 9569 | 0.00000000 | NXP 반도체 | 자동차, AEC-Q101, BZT52 | 대부분 | 활동적인 | ±6.06% | 150°C (TJ) | 표면 실장 | SOD-123 | 350mW | SOD-123 | - | RoHS 비준수 | 공급자가 규정하지 않는 경우 | 2156-BZT52-C33X-954 | 1 | 900mV @ 10mA | 50nA @ 23.1V | 33V | 40옴 | |||||||||||||
![]() | TDZ22J,115 | 0.0300 | ![]() | 42 | 0.00000000 | NXP 반도체 | 자동차, AEC-Q101, TDZxJ | 대부분 | 활동적인 | ±2% | -55°C ~ 150°C | 표면 실장 | SC-90, SOD-323F | TDZ22 | 500mW | SOD-323F | 다운로드 | 1(무제한) | REACH 영향을 받지 않았습니다. | 2156-TDZ22J,115-954 | 10,414 | 1.1V @ 100mA | 15.4V에서 50nA | 22V | 25옴 |

일일 평균 견적 요청량

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